銅厚測(cè)厚儀采用微電阻測(cè)試技術(shù)，利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí)，恒定電流通過(guò)外側(cè)兩根探針，而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電壓的變化值。高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。根據(jù)歐姆定律電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值，利用一定的函數(shù)，計(jì)算出厚度值，不受絕緣板層和線(xiàn)路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換，照明功能和探頭的保護(hù)罩方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位，為工廠預(yù)校準(zhǔn)，無(wú)需校準(zhǔn)可測(cè)線(xiàn)性銅箔厚度。

    銅厚測(cè)厚儀可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度,能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量。具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿(mǎn)足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求，同時(shí)具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。作為一種新型工業(yè)設(shè)備，銅厚測(cè)厚儀能夠?qū)崟r(shí)有效的對(duì)薄膜的厚度進(jìn)行迅速、的測(cè)量。